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Coautores
- Aldo Di CarloProf. of Opto&Nano-electronics, University of Rome Tor Vergata. Consiglio Nazionale delle RicercheE-mail confirmado em uniroma2.it
- Alessandro PecchiaCNR-ISMNE-mail confirmado em ismn.cnr.it
- Matthias Auf der MaurUniversity of Rome "Tor Vergata"E-mail confirmado em ing.uniroma2.it
- Gabriele PenazziR&D EngineerE-mail confirmado em synopsys.com
- Jeffrey GrossmanProfessor of Materials Science and Engineering, MITE-mail confirmado em mit.edu
- Alessio GagliardiTechnische Universitaet MuenchenE-mail confirmado em tum.de
- Michael PovolotskyiJacobs TechnologiesE-mail confirmado em jacobs.com
- A Gilad KusneMaterials Measurement & Science Division, NIST & Materials Science & Engineering, UMDE-mail confirmado em umd.edu
- Thomas FrauenheimProfessor für Computational Materials ScienceE-mail confirmado em bccms.uni-bremen.de
- Tonio BuonassisiMassachusetts Institute of TechnologyE-mail confirmado em mit.edu
- ZEKUN RENSingapore MIT Alliance for Research and TechnologyE-mail confirmado em smart.mit.edu
- Felipe OviedoMITE-mail confirmado em mit.edu
- Savitha RamasamyInstitute of Infocomm Research; Senior Member, IEEEE-mail confirmado em i2r.a-star.edu.sg
- Noor Titan Putri HartonoData Scientist, SolarLab Aiko EuropeE-mail confirmado em solarlab-aiko.com
- Siyu Isaac Parker TianPhD, National University of SingaporeE-mail confirmado em u.nus.edu
- Brian L. DeCostNational Institute of Standards and TechnologyE-mail confirmado em nist.gov
- Zhe LiuMassachusetts Institute of TechnologyE-mail confirmado em mit.edu
- Steven JohnsonProfessor of Applied Mathematics and Physics, Massachusetts Institute of TechnologyE-mail confirmado em math.mit.edu
- David BroidoDepartment of Physics, Boston CollegeE-mail confirmado em bc.edu
- Thomas NiehausInstitut Lumière Matière, Université Claude Bernard Lyon 1E-mail confirmado em univ-lyon1.fr